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Pharos-STEM樣品杯

Phenom Pharos STEM 臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性

1）臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡；

2）可以在低加速電壓下獲得高襯度圖像，提供材料形貌的更多細(xì)節(jié)；
3）可以選擇明場 (BF)、暗場(DF)和高角度環(huán)形暗場(HAADF) 成像模式。

Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和較好的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶， FEG 場發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。
Phenom Pharos STEM 臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個維度提高了其成像能力和
應(yīng)用的多樣性。Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對薄樣品進行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī)3mm 直徑透射電鏡（TEM）載網(wǎng)，實現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場 (BF) 、暗場 (DF) 和高角度環(huán)形
暗場 (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。