高分辨率臺(tái)式掃描電鏡的專(zhuān)業(yè)技術(shù)
高分辨率臺(tái)式掃描電鏡具備樣品表面微觀(guān)形貌觀(guān)測(cè)和表面元素成分點(diǎn)、線(xiàn)、面分，將電鏡和能譜在生產(chǎn)環(huán)節(jié)集成在一臺(tái)設(shè)備中，后期通過(guò)一個(gè)軟件平臺(tái)控制操作，用戶(hù)只需要熟悉一個(gè) 軟件就能同時(shí)操控兩項(xiàng)功能，技術(shù)支持也變得相對(duì)簡(jiǎn)單快速。
高分辨率臺(tái)式掃描電鏡是飛納電鏡系列中先進(jìn)的產(chǎn)品，第五代 Phenom Pro 放大倍數(shù)提升為 150,000 倍，分辨率優(yōu)于 8 nm，30秒快速得到表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像，是目前世界上分辨 率高的臺(tái)式掃描電鏡，可用于測(cè)量亞微米或納米尺度的樣品；高分辨率臺(tái)式掃描電鏡繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15秒快速抽真空、不噴金觀(guān)看絕緣體、全自動(dòng)操作、2-3年更換燈絲及 防震設(shè)計(jì)等優(yōu)點(diǎn)。
除此之外，還有各種各樣的樣品杯可供選擇，這些樣品杯使得樣品的裝載更加便利。無(wú)論是對(duì)于長(zhǎng)軸狀樣品，還是生物材料，或者其它種類(lèi)的材料，總有一款合適的樣品杯可以提供的 解決方案。高分辨率臺(tái)式掃描電鏡打破了傳統(tǒng)臺(tái)式掃描電鏡采用BSD探測(cè)器成像的局限性，利用創(chuàng)新的 雙聚光鏡成像技術(shù)，采用大型掃描電鏡成像原理，使用二次電子探測(cè)器作為基礎(chǔ)成像單 元，從而可以獲得更高的分辨率，是真正意義上的高分辨率臺(tái)式掃描電鏡。
高分辨率臺(tái)式掃描電鏡打破了傳統(tǒng)臺(tái)式掃描電鏡采用BSD探測(cè)器成像的局限性，利用創(chuàng)新的雙聚光鏡成像技術(shù)，采用大型掃描電鏡成像原理，使用二次電子探測(cè)器作為基礎(chǔ)成像單元，從而 可以獲得更高的分辨率（<8nm），是真正意義上的高分辨率臺(tái)式掃描電鏡。
高分辨率臺(tái)式掃描電鏡高分辨、自動(dòng)化、經(jīng)濟(jì)的高性能，具備與大型掃描電鏡同等的分辨率，為升級(jí)版本。該設(shè)備實(shí)現(xiàn)了大電鏡的小型化處理，放大倍率高達(dá)10萬(wàn)倍；裝載易于使用的可變 光闌，可達(dá)到5nm圖像分辨率，是臺(tái)式電鏡中分辨率高的設(shè)備；使用多種探測(cè)器，可得到表面形貌信息成像與材料信息成像結(jié)果，適用于質(zhì)量管理、研發(fā)、教育等目的。高分辨率臺(tái)式掃描電鏡能同時(shí)運(yùn)用鼠標(biāo)控制與快捷鍵移動(dòng)樣品進(jìn)行分析；機(jī)動(dòng)載臺(tái)的“點(diǎn)擊和移動(dòng)”特性可使圖像獲取更為便捷；能在雙視圖模式下同時(shí)對(duì)SE/BSE圖像進(jìn)行查看與存檔。
